製品情報
「差分解析」システムは、構造物表面の凹凸部をスクリーニングし点群に色を付けて可視化させる技術である。1㎜単位で微細な変位も浮き彫りとなるため、近接目視による触診や打音調査でも見落としかねない損傷部を発見できるメリットがある。また、解析結果を活用して損傷図作成や損傷箇所の面積計算など機能も充実している。解析のメカニズムは、対象構造物の点群データと同じ座標系から作成した3D基準面TINモデルを比較して、その法線差分距離に応じて点群をグラデーションで色分けするシンプルな方法である。構造物表面の剥離や剥落といった損傷部が可視化できることで、点検時の効率化向上、点検漏れの防止、時間短縮や熱中症対策として点検現場を支援できる技術である。
最終更新日:2025-11-10
更新日:2025年12月16日 集権期間:2025年10月1日~2025年12月15日 ※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
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